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编码器常见问题解答

 



常见问题解答

有关静电容量式测厚计位移计在使用时常见问题的解答。

为什么要使用VE系列测厚传感器？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器的测试能力如何？(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计的工作原理(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计测量结果的线性度如何？(2011.4.18)
关于环境温度的变化对VE系列测厚传感器测量精度的影响(2011.4.18)
CL-5610静电容量式测厚计测量绝缘体厚度的工作原理(2011.4.18)
VE系列测厚传感器的测量范围如何？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器可以测量那些材质的物体？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器可以测量复合材料(导体)吗？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器可以测量复合材料(绝缘体)吗？(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计怎样测量导体，半导体的位移？2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计怎样测量导体，半导体的厚度？(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计怎样测量绝缘体的厚度？(2011.4.18)
使用静电容量式测厚计位移计在测试导体，半导体时，需要使用基准片进行校准吗？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器测量物体的边缘部位时应如何测量？(2011.4.18)
使用VE系列测厚传感器测量时，计测量物体的垂直度与结果的关系如何？(2011.4.18)
使用VE系列测厚传感器测量轴摆动时，由于测定面有一定弯曲，对测量精度有何影响？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器与CL-5610的连接电缆的最大长度是多少？(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计测量值的更新间隔时间？(2011.4.18)
静电容量式测厚计位移计测量值的再现性如何？(2011.4.18)
VE系列测厚传感器损害时，是否可以仅交换新VE系列测厚传感器即可？(2011.4.18)
复数的VE系列测厚传感器可以交换使用吗？(2011.4.18)

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