干渉計内蔵のシンプル構成で高分解能・高精度レーザー測長計
LV-9300 レーザー測長計ユニット
LV-9001 レーザー測長センサー
１ch測長器・２ch測長器
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干渉計一体型のシンプル構造
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最大±5 m まで測定可能
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最大 1 MHz サンプリング
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2.5 m/s 対応の高速応答
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±1 m：分解能 0.618 nm、
±5 m：分解能 2.5 nm
の高変位分解能 -
LV-0930 動特性解析ソフトを組み合わせ、サンプリング周波数 1 MHz の高速応答で移動軌跡や振動軌跡などをグラフ表示
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USB 2.0 デジタル出力標準装備
新たに開発した LV-9300/LV-9001 は、He-Ne レーザー光を使って直線変位を測定する高精度・高速応答非接触測長システムです。干渉計内蔵のシンプルな構成のため簡単に、短時間に設置可能です。 プリンタ・スキャナ・コピー機等の OA 機器や、工作機械・移動ステージ等の精密位置決め機構を有する機械の動特性解析まで、高精度な位置決め計測に威力を発揮します。 また、LV-0930 変位解析ソフトウェアオプションを用いると、USB 出力より計測データを読み込み、最高 1 MHzのサンプリング周波数で、測定物の移動軌跡や停止時等に発生するオーバーシュートなどの動特性解析や、ISO230-2 に準拠した位置決め精度試験が可能です。 レーザー測長計システムはユニットの組合せにより、１chの測長計として、或いは２chの測長計としてピッチング＆ヨーイングや差分計測システムの構成が可能です。
