He-Ne
レーザー光を使って直線変位を測定する高精度・高速応答非接触測長システムです。干渉計内蔵のシンプルな構成のため簡単に、短時間に設置できます。
プリンタ・スキャナ・コピー機等の OA
機器や、工作機械・移動ステージ等の精密位置決め機構を有する機械の動特性解析まで、高精度な位置決め精度計測に威力を発揮します。
また、LV-0930 変位解析ソフトウェアオプションを用いると、USB 出力より計測データを読み込み、最高 1
MHz のサンプリング周波数で、測定物の移動軌跡や停止時等に発生するオーバーシュートなどの動特性解析や、ISO230-2
に準拠した位置決め精度試験が可能です。 レーザー測長計システムは次の3つのユニットから構成されます。
- LV-9001 センサーユニット
- LV-9300 レーザーユニット
- LV-0121 変位ユニット
ユニットの組み合わせにより、1chの測長計として、あるいは2chの測長計としてピッチング&ヨーイングや差分計測システムが構成可能です。 |