［戻る］
	静電容量式厚さ計・変位計では導体・半導体の厚みをどのように測るのでしょうか？

VE シリーズ ギャップディテクタはギャップを計測するセンサですが、２つの VE センサを使うことで厚みを計算することが出来ます。

下図のように、２つの VE センサを測定対象物を挟み込むように設置します。 ２つの VE センサはギャップ値（Ga、Gb）を計測しますが、センサ間の距離(GS)が分かっていれば、測定対象物の厚み（t）を計算できます。

なお、VE センサ間の距離は、基準片を入れてギャップ値を計測することで求められます。詳しくは、「 静電容量式厚さ計・変位計で導体・半導体の厚みを測る際、何故基準片での校正が必要なのですか？」を参照ください。